인하대학교(총장 조명우)는 김형진 전자공학과 교수 연구팀이 낸드 플래시 메모리 기반의 하드웨어 보안기술을 개발했다고 27일 밝혔다.

연구팀은 SSD 등에 활용되고 있는 낸드 플래시 메모리를 커패시터 구조로 활용해 고보안성의 물리적 복제불가 함수 기술을 개발했다.

물리적 복제불가 함수는 반도체 공정과정에서 발생하는 랜덤한 산포 특성을 보안 인증과정에 활용하는 기술이다. 낸드 플래시 메모리는 직렬 연결구조를 가져 각 소자의 랜덤성을 합산하기 어려웠지만 연구팀은 병렬 연결된 커패시터 구조를 활용해 기존의 단점을 보완했다.

이번 연구성과는 국내 반도체 회사가 경쟁력을 가진 낸드 플래시 메모리를 활용하고 있어 추가적인 핵심기술이 개발됐을 때 발빠른 적용과 기술 선점이 가능할 것으로 기대된다.

연구팀은 개발 기술을 국제전자소자학회(International Electron Devices Meeting·IEDM)에서 ‘물리적 복제불가 함수 구현을 위한낸드 플래시 구조 기반의 멤커패시터 크로스바 어레이’ (Memcapacitor Crossbar Array with Charge Trapping Layer for Physical Unclonable Function in NAND Flash Architecture)을 주제로 발표했다. IEDM은 VLSI, ISSCC와 함께 세계 3대 반도체 학회로 손꼽힌다.

이번 연구는 한국연구재단의 우수신진연구 및 PIM인공지능반도체핵심기술개발(소자)사업, 4단계 BK21 사업(ICT·미래자동차 융합 교육연구단)의 지원으로 이뤄졌다.

연구책임자인 김형진 인하대학교 전자공학과 교수는 “다양한 단말기의 통신과정에서 필요한 높은 등급의 보안 기술을 구현하기 위해선 낸드 플래시와 같은 대용량 메모리 반도체 기반의 물리적 복제불가 함수 개발이 필수적”이라며 “앞으로도 산업체 친화적인 연구개발을 지속해 실용적인 기술을 개발하고 기술 혁신을 이끌 수 있도록 노력하겠다”고 말했다.

방완재 다른기사 보기